拡がり抵抗測定装置 SRP-170

SRP-170

SRP-170®システムは、拡がり抵抗プロファイリングメトロロジーをコスト効率よく利用できる市販システムです。

 

特徴:

  • 測定室に振動保護と遮音性能を装備
  • 手動(X軸自動ステージ/サンプルアライメント機能付き)
  • 拡がり抵抗測定範囲(Ω):1~109
  • 抵抗率範囲(Ωcm):10-4~>4×104
  • 顕微鏡:単一倍率(20× - 標準)
  • 照明器(寿命):ハロゲンライト(約200時間)
  • 手動のプローブ調整&評価、校正、プローブ配置/プローブ半径判定(間隔)
  • タッチスクリーン式ユーザーインターフェイス

オプション:

  • ベベル角度測定(BAM):レーザーセンサーにより、サンプルの実際のベベル角度の高精度測定が可能であり、正確な深さ方向プロファイリングを実現。
お問い合わせ
アプリケーション・テクノロジー情報

お問い合わせ

ご質問・ご相談はこちら

TEL 045-620-7960

日本セミラボ株式会社

〒222-0033
神奈川県横浜市港北区新横浜2-15-10
YS新横浜ビル6階
TEL: 045-620-7960(代表) FAX: 045-476-2146

セミラボグループ
セミラボグループロゴ
Semilab AMSロゴ
Semilab QC ロゴ
Semilab SDI ロゴ
Semilab Sopra ロゴ
Semilab SSM ロゴ