ヤング率

ナノインデンターは、

既に確立された測定方式、弾性部材・プラスチック・粘弾性材料などの薄膜材料の物性評価に広く使用されています。

ディスプレイ・半導体・バイオテクノロジー・ケミカルなどの幅広いアプリケーションでご利用いただけます。

ヤング率測定

テクノロジー

ナノインデンターとは(ヤング率測定)

IBIS ナノインデンターとは?

ナノインデンターの測定によって、正確な荷重変位曲線が得られます。
軟かい材料・硬い材料・ラフネス層の工学的に成膜プロセスで作成された、薄膜の特性評価に使用されます。
成膜プロセスには、微小量材料の機械特性の定量測定による熱溶射皮膜も含まれます。


ナノデンターアプリケーションとして、薄膜フィルム・多層金属・ケミカル材料・バイオテクノロジー材料のアプリケーションです。
ポリマー・粘弾性材料・MEMSのフィクスチャーテスト・サブマイクロメートルオーダーの機械特性も評価可能です。

ナノインデンターでは硬度・弾性率・降伏強度・粘弾性(貯蔵損失弾性率)・破壊靭性・耐摩耗性・耐傷性の材料特性も評価可能になります。

荷重変位曲線荷重変位曲線

お問い合わせ

ご質問・ご相談はこちら

TEL 045-620-7960

日本セミラボ株式会社

〒222-0033
神奈川県横浜市港北区新横浜2-15-10
YS新横浜ビル6階
TEL: 045-620-7960(代表) FAX: 045-476-2146

セミラボグループ
セミラボグループロゴ
Semilab AMSロゴ
Semilab QC ロゴ
Semilab SDI ロゴ
Semilab Sopra ロゴ
Semilab SSM ロゴ